고해상도 카메라 및 문자 인식 기술을 활용한 반도체 Wafer/Chip

   검사 시스템

       2) 생산 라인별 실시간 다채널 운용

       3) 실시간 모델별 수량 정보 DB화,Reporting

       1) 외국산 고가 장비를 대체하여 저비용으로 고수준 검사시스템 구축 가능

      2) 인식모듈 카메라 내장으로 실시간 고속 데이터 수집 처리

      3) 육안으로 판독 하기 어려운 작은 사이즈의 문자 인식 처리